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透射電子顯微技術(shù)TEM

更新時(shí)間:2021-10-18 點(diǎn)擊次數(shù):1156

熱重法TG

分析原理:在控溫環(huán)境中,樣品重量隨溫度或時(shí)間變化

譜圖的表示方法:樣品的重量分?jǐn)?shù)隨溫度或時(shí)間的變化曲線

提供的信息:曲線陡降處為樣品失重區(qū),平臺區(qū)為樣品的熱穩(wěn)定區(qū)


靜態(tài)熱-力分析TMA

分析原理:樣品在恒力作用下產(chǎn)生的形變隨溫度或時(shí)間變化

譜圖的表示方法:樣品形變值隨溫度或時(shí)間變化曲線

提供的信息:熱轉(zhuǎn)變溫度和力學(xué)狀態(tài)


透射電子顯微技術(shù)TEM

分析原理:高能電子束穿透試樣時(shí)發(fā)生散射、吸收、干涉和衍射,使得在相平面形成襯度,顯示出圖象

譜圖的表示方法:質(zhì)厚襯度象、明場衍襯象、暗場衍襯象、晶格條紋象、和分子象

提供的信息:晶體形貌、分子量分布、微孔尺寸分布、多相結(jié)構(gòu)和晶格與缺陷等



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